激光顆粒分布測量儀
簡要描述:激光顆粒分布測量儀產品型號:GSL-10101、基本參數工作電壓:110-230V/48-63Hz電流要求:<2A儀器凈重:41Kg 體 積:575x295x253(mm)說明:使用寬范圍電源供電,電源精度高,抗力強。
產品型號: GSL-1010
所屬分類:專業(yè)儀器
更新時間:2024-10-09
廠商性質:其他
品牌 | 其他品牌 | 加工定制 | 否 |
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激光顆粒分布測量儀
產品型號:GSL-1010
1、基本參數
工作電壓:110-230V/48-63Hz
電流要求:<2A
儀器凈重:41Kg
激光顆粒分布測量儀
體 積:575x295x253(mm)
說明:使用寬范圍電源供電,電源精度高,抗力強。電源部分具有防浪涌保護裝置,可以有效保護儀器避免感應雷的雷擊。
2、激光
1)波長:λ=650nm,松下紅色激光器。
2)準直系統(tǒng):本公司自行研制的準直系統(tǒng),內置雙鏡片,在樣品中的光源Ф8mm圓光斑。 3)供電:高精度恒流源供電,提高激光器輸出的穩(wěn)定性。
4)輸出功率:5mW ,光路:平行光束。
5)典型壽命:大于25000小時。
采用半導體激光器,光學參數穩(wěn)定,抗振動性好,不易損壞,壽命長。
3、 樣品通路
在激光束中樣品的通道長度:8.6mm
粒子與分散液接觸的系統(tǒng)材料:比色皿玻璃(石英玻璃需另行購買)
外置超聲分散儀功率:80W
4、 透鏡
焦距:f=250mm
工作距離:250±1.0mm
固定方式:緊固,單透鏡測量
單透鏡工作方式,出廠前已預先固定完畢,抗振動性好,在測試中無須更換鏡片,
并且無論各種粒度分布的樣品,全部由單一透鏡進行測量,避免了測量誤差。
5、 探測器
元件數量: 66+8+1
探測器形狀:非對稱、非均勻扇型
對光方式:緊固,出廠前已校準
校 準:見本說明書6、
遮光比測量:單通道10X10mm大面積濃度探測器,可以實時測量被測樣品的濃度,避免
發(fā)生二次散射或者濃度過低的現(xiàn)象。
說明:光電探測器數量達到74個,使測量結果精度得到了提高,提高了單個光電探測器的受光面積,提高了靈敏度。
6、 光路調整
調整時間:<10秒鐘
調整方式:4象限X-Y軸自動調整
鎖緊方式:電機自鎖
GSL-1010激光粒度儀內置、全自動、四象限光路調整系統(tǒng),調整系統(tǒng)的運行全部由上位機電腦控制,無需人工干預。調整系統(tǒng)可自動對光路進行精確調整,有效地避免由于運輸、振動等造成的光路偏移,而導致的測試結果出現(xiàn)偏差等問題的發(fā)生,的提高了測試結果的準確性。
7、 測量
1)典型測量時間:30秒鐘(采樣16000次,不含樣品制備時間)
2)連續(xù)測量的短間隔時間: 0 秒
3)長連續(xù)工作時間:12小時(超過需關機休息1個小時)8、 數學模型
4)光學模型:密氏理論
5)數學過程:高精度小二乘解析法/對數正態(tài)分布/Rosin-Rammler分布
6)測試原理:使用通用的Mie散射理論,符合標準要求。
7)解算方法為:多峰分布,可以真實反映樣品的分布狀態(tài),同時輔助對數正態(tài)分布/
Rosin-Rammler分布以滿足用戶的特殊需求。
9、 輸出
1)測量范圍:0.1-600μm
2)粒度范圍:固定
3) 輸出類型:微分和累積分布表及曲線,給定粒度值的百分含量、給定百分含量的粒度
值、任意輸入粒度值的百分含量、描述顆粒及測試公司的相關信息
4)數據存儲:輸出類型的全部及光散射通量密度
5) 報告格式:GSL格式、PDF格式、EXCEL格式、BMP格式等,測量結果多種保存方式,滿足用戶數據保存和交流的需求。
10、微量進樣裝置
1) 樣品池容積:40毫升
2) 攪拌電機轉速:0~600轉/分鐘,轉速連續(xù)可調微量進樣裝置操作簡單、使用樣品量少,容易清洗,特別使用于需要使用乙醇、四氯化碳等特殊介質才能可靠分散的樣品測試。攪拌器電機轉速連續(xù)可調,適合各種比重的樣品。
11、性能
重復性(在一臺儀器之內): <±0.5% (使用標準測試樣品,以D50計算)
復現(xiàn)性(一臺儀器相對與另一臺):<±0.75%(使用標準測試樣品,以D50計算)
系統(tǒng)誤差:<±1%(使用標準測試樣品,以D50計算)
12、軟件運行環(huán)境: Windows98/xp/7/8
13、計算機接口:USB2.0,采樣速度可以達到460800kb
14、其他:
電源設計:多重EMI抗干擾設計手段,具有防電磁干擾功能,可提高儀器的抗力,提高測試的準確性,防浪涌(雷擊)功能,可以有效防止感應雷擊對儀器的損害。
內置溫、濕度檢測:儀器內部設計有溫度、濕度檢測電路,防止由于溫度、濕度不在合適的范 圍,對儀器的測量結果造成影響,同時防止儀器內部光學部件發(fā)霉等情況發(fā)生。
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